Abstract

Contrairement aux circuits sur l’Arséniure de Galium , les circuits Silicium ont des comportements liés à la nature résistive des couches constituent les substrats ;
Cette étude est effectuée l’analyse électromagnétique des circuits multicouches sur des substrats résistifs issus des technologies Silicium, elle est basée sur la méthode itérative WCIP (Wave Concept Iterative Process)
Mots clés : semi conducteur – modélisation – caractéristique électromagnétique – méthode itérative – WCIP – FMT – circuit actif – circuit planaire – micro onde – circuit multicouches.

Information

Item Type:	Conference
Divisions:
ePrint ID:	170
Date Deposited:	2014-12-08
Further Information:	Google Scholar
URI:	https://www.univ-soukahras.dz/en/publication/article/170

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